泰興市航順電子有限公司與您共同學(xué)習真正接觸電阻應由以下幾部分組成
1) 集中電阻
電流通過(guò)實(shí)際接觸面時(shí)，由于電流線(xiàn)收縮（或稱(chēng)集中）顯示出來(lái)的電阻。將其稱(chēng)為集中電阻或收縮
電阻。
2) 膜層電阻
由于接觸表面膜層及其他污染物所構成的膜層電阻。從接觸表面狀態(tài)分析；表面污染膜可分為較堅
實(shí)的薄膜層和較松散的雜質(zhì)污染層。故確切地說(shuō)，也可把膜層電阻稱(chēng)為界面電阻。
3) 導體電阻
實(shí)際測量電連接器接觸件的接觸電阻時(shí)，都是在接點(diǎn)引出端進(jìn)行的，故實(shí)際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線(xiàn)本身的導體電阻。導體電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能，它與周?chē)h(huán)境溫度的關(guān)系可用溫度系數來(lái)表征。為便于區分，將集中電阻加上膜層電阻稱(chēng)為真實(shí)接觸電阻。而將實(shí)際測得包含有導體電阻的稱(chēng)為總接觸電阻.在實(shí)際測量接觸電阻時(shí)，常使用按“開(kāi)爾文電橋四端子法”原理設計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專(zhuān)用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實(shí)際測量的總接觸電阻 R 由以下三部分組成，可由下式表示：
R= RC + Rf + Rp,
式中：RC—集中電阻；Rf—膜層電阻；Rp—導體電阻。
接觸電阻檢驗目的是確定電流流經(jīng)接觸件的接觸表面的電觸點(diǎn)時(shí)產(chǎn)生的電阻。如果有大電流通過(guò)高阻觸點(diǎn)時(shí)，就可能產(chǎn)生過(guò)分的能量消耗，并使觸點(diǎn)產(chǎn)生危險的過(guò)熱現象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩定，以使觸點(diǎn)上的電壓降不致影響電路狀況的精度。測量接觸電阻除用毫歐計外,也可用伏-安計法，安培-電位計法。在連接微弱信號電路中，設定的測試參數條件對接觸電阻檢測結果有一定影響。因為接觸表面會(huì )附 有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會(huì )產(chǎn)生膜層電阻。由于膜層為不良導體，隨膜層厚度增加.接觸電阻會(huì )迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會(huì )機械擊穿，或在高電壓、大電流下會(huì )發(fā)生電擊穿。但對某些小型連接器設計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為 mA 和 mV 級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。 在 GB5095“電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法” 中的接觸電阻測試方法之一，“接觸電 阻-毫伏法” 規定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試回路交流或直流的開(kāi)路峰值電壓應不大于 20mV，交流或直流的測試中電流應不大于 100mA。 在 GJB1217“電連接器試驗方法” 中規定有“低電平接觸電阻” 和“接觸電阻” 兩種試驗方法。其中低 電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述 GB5095 中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上 更多詳情請咨詢(xún)：http://www.qttlfc.com
